高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合溫濕度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測(cè)試條件，搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng)，廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性，特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力

產(chǎn)品型號(hào)：LW-GDW
更新時(shí)間：2025-11-26
訪問(wèn) 量： 1611

詳細(xì)介紹

品牌	聯(lián)往檢測(cè)	價(jià)格區(qū)間	2萬(wàn)-5萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣

高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合溫濕度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測(cè)試條件，搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng)，廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性，特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力

高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)

1、GB10592-2008 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度變化）

2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-1:2007）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-1：2007）試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法

4.GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-78:2001）試驗(yàn) Cab：恒定試驗(yàn)方法

5.GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC68-2-14）試驗(yàn) N：溫度變化

6.GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)方

7.GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)方

8.GB 24977-2010

9.GB/T 4893.7-2013

主要技術(shù)參數(shù)

主要技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)	工作室 W×D×H（mm）	外型W×D×H(mm）
LWGDW-50	350×320×450	820×850×1560
LWGDW-100	450×450×500	900×950×1610
LWGDW-150	500×500×600	950×1000×1710
LWGDW-225	520×630×750	1050×1050×1860
LWGDW-250	600×600×700	1100×1100×1900
LWGDW-400	600×800×850	1120×1300×1980
LWGDW-500	700×800×900	1250×1500×2010
LWGDW-800	800×1000×1000	1350×1500×2150
LWGDW-010	1000×1000×1000	1520×1500×2150
溫度范圍: 0～160℃ - 20～160℃ -40～160℃ -50～160℃ -60～160℃ -70～160℃ -80～160℃ 可按照要求選定